高/低温试验
高/低温测试
高温试验是模拟产品在贮存、装配和使用过程中的耐高温状况而进行的可靠性试验，高温试验也是最长用的加速寿命测试；
低温试验是确定产品在低温环境下贮存和工作的可靠性，包括低温贮存试验和低温工作试验。
试验参数
高温试验：试验温度、试验时间、升温速率；
低温试验：试验温度、试验时间、降温速率；
性能影响
高温试验：材料热老化、龟裂、变色、软化、熔融、膨胀，或功能性失效等；
低温试验：材料表面开裂、脆化，元器件电信号飘逸、性能改变、功能波动等；
推荐标准
GB/T 2423.1-2008 / IEC 60068-2-1：2007 电工电子产品环境试验第2部分:试验方法 试验A：低温
GMW3172-2012 电气－电子元件通用规范－环境/耐久性 8.4.2低温唤醒
GJB150.4A-2009 军用设备实验室环境试验方法 第4部分:低温试验
GJB150.4-1986 军用设备环境试验方法 低温试验
GJB4.3-1983 舰船电子设备环境试验 低温试验
GJB367A-2001 军用通信设备通用规范 A01低温试验
MIL-STD-810G-2008 环境工程考虑与实验室试验 第二部分：502.5低温
GJB4.4-1983舰船电子设备环境试验 低温贮存试验
ISO16750-4-2010 道路车辆 - 电气和电子设备的环境条件和试验第4部分:气候负荷 5.1.1低温试验
GB/T 28046.4-2011道路车辆电气及电子设备的环境条件和试验第4部分：气候负荷 5.1.1低温试验
VW80000 3.5吨以下汽车电气和电子部件试验项目、试验条件和试验要求9.1高温/低温存放 9.3低温工作
GB/T 2423.2 / IEC 60068-2-2：2007-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验B：高温
VW80000 3.5吨以下汽车电气和电子部件试验项目、试验条件和试验要求 9.1高温/低温存放 11.2高温耐久寿命试验
GMW3172-2012 电气－电子元件通用规范－环境/耐久性 9.4.1高温老化
GJB 150.3A-2009军用设备实验室环境试验方法 第4部分:高温试验
GJB4.2-1983 舰船电子设备环境试验 高温试验
GJB150.3-1986 军用设备环境试验方法 高温试验
GJB367A-2001 军用通信设备通用规范 A02高温试验
GJB360A－1996 电子及电气元件试验方法 方法108 高温寿命试验
GJB360B－2009 电子及电气元件试验方法 方法108 高温寿命试验
MIL-STD-810G-2008 环境工程考虑与实验室试验 第二部分 501.5高温
ISO16750-4-2010 道路车辆-电气和电子设备的环境条件和试验第4部分:气候负荷 5.1.2高温试验
GB/T 28046.4-2011 道路车辆 电气及电子设备的环境条件和试验 第4部分:气候负荷5.1.2高温试验
GB/T 2423.22-2012 /IEC 60068-2-14-2009环境试验 第2-14部分：试验 试验N：温度变化
GMW3172-2012 电气-电子元件通用规范-环境/耐久性 9.4.3 PTC带电温度循环 6.9端子的温度循环
RTCA-DO-160G：2010 机载设备的环境条件和测试程序 5温度变化
ISO16750-4-2010道路车辆 - 电气和电子设备的环境条件和试验 第4部分:气候负荷 5.2 温度变化 5.3 温度循环
GB/T 28046.4-2011 道路车辆 电气及电子装设备的环境条件和试验 第4部分:气候负荷 5.2 温度梯度 5.3 温度循环
VW80000 3.5吨以下汽车电气和电子部件试验项目、试验条件和试验要求9.2梯度温度试验
JIS C 0025-1988 基本环境试验程序 第2部分：温度变化法
JESD22-A104C-2005 试验方法A104C 温度循环
GJB548B-2005 微电子器件试验方法和程序 方法 1010.1 温度循环
GJB128A-1997 半导体分立器件试验方法 方法1051 温度循环（空气－空气）
高温试验是模拟产品在贮存、装配和使用过程中的耐高温状况而进行的可靠性试验，高温试验也是最长用的加速寿命测试；
低温试验是确定产品在低温环境下贮存和工作的可靠性，包括低温贮存试验和低温工作试验。
试验参数
高温试验：试验温度、试验时间、升温速率；
低温试验：试验温度、试验时间、降温速率；
性能影响
高温试验：材料热老化、龟裂、变色、软化、熔融、膨胀，或功能性失效等；
低温试验：材料表面开裂、脆化，元器件电信号飘逸、性能改变、功能波动等；
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VW80000 3.5吨以下汽车电气和电子部件试验项目、试验条件和试验要求 9.1高温/低温存放 11.2高温耐久寿命试验
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